Diplomi-insinööri Tuomas Sihvosen laskennallisen tekniikan alaan kuuluva väitöskirja "Adaptive binning and spatial profile partial least squares methods in scanning electron microscopy energy-dispersive X-ray spectroscopy and satellite hyperspectral pansharpening" tarkastetaan 12.12.2023 klo 12 LUT-yliopiston auditoriossa 1316.
Vastaväittäjinä toimii Professor Cyril Ruckebusch, Université de Lille, Ranska. Kustoksena toimii professori Satu-Pia Reinikainen LUT-yliopistosta.
Väitöskirja on julkaistu yliopiston Acta Universitatis Lappeenrantaensis -tutkimussarjassa numero 1118. ISBN 978-952-412-032-6, ISBN 978-952-412-033-3 (PDF), ISSN 1456-4491 (Print), ISSN 2814-5518 (Online).