Diplomi-insinööri Jonny Ingmanin sähkötekniikan alaan kuuluva väitöskirja Evaluation of Failure Mechanisms in Electronics Using X-ray Imaging tarkastetaan 30.9.2022 klo 12 LUT-yliopiston auditoriossa 1314.
Vastaväittäjinä toimii professori Rajan Ambat, Technical University of Denmark, Tanska, ja Doctor Bálint Medgyes, Budapest University of Technology and Economics, Unkari. Kustoksena toimii professori Pertti Silventoinen LUT-yliopistosta.
Väitöskirja on julkaistu yliopiston Acta Universitatis Lappeenrantaensis -tutkimussarjassa numero 1038. ISBN 978-952-335-850-8, ISBN 978-952-335-851-5 (PDF), ISSN-L 1456-4491 (Print) ja ISSN 2814-5518 (Online).